2024年4月8-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。上海恩艾儀器有限公司（NI）將攜新品亮相本屆盛會，誠邀業界同仁蒞臨2T09展臺參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。

CSE作為2024年首場國際化合物半導體產業博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區，六大領域，將集中展示各鏈條關鍵環節的新技術、新產品、新服務，將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產業的燈塔級盛會，集中展示化合物半導體上下游全產業鏈產品，搭建企業發布年度新產品新技術的首選平臺，支撐產業鏈及中部地區建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產業集群。

NI成立于1976年，是一家專注于測試測量領域的科技公司，在上世紀90年代以“虛擬儀器技術”的全新概念開啟了測試測量領域“軟件定義"的時代，40多年以來，NI不斷致力于開發基于軟件的測試測量與自動化平臺，助力工程師和科學家們解決全球最嚴峻的難題，獲得數以百倍的效率提升；進入移動互聯時代，NI從貫穿技術與產品生命周期的測試測量數據入手，結合強大的軟件能力，構建更完整的企業級數據鏈，成為不同行業、不同應用的技術聯結者和創新驅動者。

深耕中國24年，NI開放的軟件平臺和豐富的硬件資源在中國也形成了完整的科技生態，廣泛應用于下一代通信、半導體、商業航空航天、交通、能源、醫療、消費電子、工業電子等領域，推動中國科技創新、數字化轉型及能源可持續發展。

產品介紹

WBG半導體可靠性測試H3TRB專區

對于H3TRB動態測試，SET提供的系統可將行業的擴展要求轉化為自動動態測試。系統特別注重靈活性，以便能夠快速滿足不斷變化的要求。

測試類型

動態 H3TRB/ DRB 測試系統 

測量技術

·每個系統80-240個被測設備（80個被測設備1個高壓電源）

·0V至1500V；4A，用于80DUT

·單個DUT泄漏電流測量（靜態H3TRB期間）。80個測量通道

·通過關閉開關提供單個DUT過流保護。基于硬件的單個DUT快速關斷，應力階段為65mA±20%，讀出階段為650μA±20

·單DUT電壓控制。主動電壓控制可將負載電壓補償至<±0.5V

動態測試輸出級

·最大輸出電壓高達1500V

·輸出頻率可在0Hz至500kHz之間配置（最大頻率取決于電壓和DUT電容）

·占空比在25%至75%之間可變，每5%為一檔 

軟件和測試程序

·全自動測試程序

·測量數據保存在tdms文件中

·基于NI LabVIEW和TestStand的軟件

安全

·用軟件連接和評估試驗箱的外部安全鎖  

·高壓插頭連接的安全電壓監控

·高壓供電設備的安全釋放 

值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。 

關于JFSC&CSE 2024