2024年4月8-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。武漢頤光科技有限公司將攜新品亮相本屆盛會，誠邀業界同仁蒞臨1T14展臺參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。 

CSE作為2024年首場國際化合物半導體產業博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區，六大領域，將集中展示各鏈條關鍵環節的新技術、新產品、新服務，將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產業的燈塔級盛會，集中展示化合物半導體上下游全產業鏈產品，搭建企業發布年度新產品新技術的首選平臺，支撐產業鏈及中部地區建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產業集群。

武漢頤光科技有限公司是國內專業從事高端橢偏儀測量設備研發、制造與銷售的高新技術企業。公司由多位具有二十多年偏振光學測量經驗的專家聯合創辦，與華中科技大學緊密合作，是國內橢偏光學儀器領域最規模和技術優勢的團隊。公司2013年9月注冊成立于武漢東湖國家自主創新示范區，立足光谷，面向全球，為科研和工業用戶提供納米光學測量儀器、軟件服務等綜合解決方案，產品廣泛應用于集成電路、光通訊、平板顯示、光學鍍膜、LED照明、光伏太陽能、生物醫藥、化學等眾多領域。 

產品介紹

光譜橢偏儀  ME-Mapping

特征

·全基片分布信息測量能力

·支持圖像識別，Pattern區測量

·用戶自定義Recipe，一鍵調用

·支持2/4/6/8/12寸全基片定位測量 

傅里葉紅外干涉儀 IRE200

特征

·單拋/雙拋等多種模式選擇支持

·自定義Mapping功能

·高檢測速率：Si標準外延片測量25點≤3min

·高檢測精度： ≤0.01um

 反射膜厚儀 SR-Mapping

產品特點

·緊湊集成化設計，小巧輕便

·人性化設計，極致用戶操作體驗

·豐富的材料數據庫及算法模型庫

·支持2/4/6/8/12寸定位測量

 郵箱：sale@eoptics.com.cn

聯系電話：027-87001728

公司網站：http://www.eoptics.com.cn

地址：武漢東湖新技術開發區金融港四路10 號6 號樓（自貿區武漢片區）

值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。

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