由中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所、廈門市三安集成電路有限公司、北京大學(xué)、中興通訊股份有限公司、中國電子科技集團第十三研究所聯(lián)合提出的《射頻GaN HEMT結(jié)構(gòu)的遷移率非接觸霍爾測量方法》團體標(biāo)準(zhǔn)提案，經(jīng)CASAS管理委員會投票獲得通過，2022年11月21日正式立項，并分配標(biāo)準(zhǔn)編號：T/CASAS 027。
由中國電子科技集團第十三研究所、河北博威集成電路有限公司、北京國聯(lián)萬眾半導(dǎo)體科技有限公司、中興通訊股份有限公司、西安電子科技大學(xué)、河北北芯半導(dǎo)體科技有限公司聯(lián)合提出的《Sub-6GHz GaN 射頻產(chǎn)品可靠性篩選和驗收方法》和《Sub-6GHz GaN 射頻器件微波特性測試方法》團體標(biāo)準(zhǔn)提案，經(jīng)CASAS管理委員會投票獲得通過，2022年11月21日正式立項，并分配標(biāo)準(zhǔn)編號：T/CASAS 028、T/CASAS 029。
由中國電子科技集團第五十五研究所、中興通訊股份有限公司、蘇州能訊高能半導(dǎo)體有限公司、廈門市三安集成電路有限公司、中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所、西安電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、北京大學(xué)、中國電子科技集團第十三研究所聯(lián)合提出的《GaN毫米波前端芯片測試方法》團體標(biāo)準(zhǔn)提案，經(jīng)CASAS管理委員會投票獲得通過，2022年11月21日正式立項，并分配標(biāo)準(zhǔn)編號：T/CASAS 030。
由中興通訊股份有限公司、中國電子科技集團第十三研究所、中國電子科技集團第五十五研究所、蘇州能訊高能半導(dǎo)體有限公司、廈門市三安集成電路有限公司、中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所、西安電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、北京大學(xué)聯(lián)合提出的《面向5G基站應(yīng)用的Sub-6GHz氮化鎵功放模塊測試方法》團體標(biāo)準(zhǔn)提案，經(jīng)CASAS管理委員會投票獲得通過，2022年11月21日正式立項，并分配標(biāo)準(zhǔn)編號：T/CASAS 031。
秘書處將向CASAS正式成員發(fā)出征集起草單位的通知，組建標(biāo)準(zhǔn)起草小組，請CASAS正式成員關(guān)注秘書處郵件（casas@casa-china.cn）。
T/CASAS 027—20XX《射頻GaN HEMT結(jié)構(gòu)的遷移率非接觸霍爾測量方法》規(guī)定了射頻GaN HEMT結(jié)構(gòu)的遷移率非接觸Hall測量方法，適用于遷移率量測范圍在100 cm2/V•s ~ 3000 cm2/V•s 的射頻GaN HEMT 外延片。
T/CASAS 028—20XX《Sub-6GHz GaN 射頻產(chǎn)品可靠性篩選和驗收方法》適用于Sub-6GHz GaN 射頻器件的篩選、測試與驗收要求。
T/CASAS 029—20XX《Sub-6GHz GaN 射頻器件微波特性測試方法》規(guī)定了Sub-6GHz GaN 射頻器件的詳細測試要求，該項標(biāo)準(zhǔn)對研發(fā)生產(chǎn)、性能評估、量產(chǎn)測試和應(yīng)用評價等具有重要指導(dǎo)意義。
T/CASAS 030—20XX《GaN毫米波前端芯片測試方法》規(guī)定了GaN 毫米波前端模塊的術(shù)語、定義、測試條件、測試要求和測試方法，該標(biāo)準(zhǔn)借鑒了GJB 548B－2005（微電子器件試驗方法和程序）等國標(biāo)的內(nèi)容，并結(jié)合了近幾年科研人員在毫米波氮化鎵前端模塊領(lǐng)域的研發(fā)、測試評估以及應(yīng)用方面的經(jīng)驗總結(jié)，對毫米波氮化鎵前端模塊性能指標(biāo)的測試方法進行了詳細的規(guī)定，包括且不限于測試目的、測試環(huán)境、測試方法及步驟、測試工具及儀表等。
T/CASAS 031—20XX《面向5G基站應(yīng)用的Sub-6GHz氮化鎵功放模塊測試方法》文件規(guī)定了氮化鎵功放模塊的術(shù)語、定義、測試條件、測試要求和測試方法，該項標(biāo)準(zhǔn)借鑒了3GPP TS 37.104 V16.5.0 等國標(biāo)的內(nèi)容，并結(jié)合了近幾年科研人員在氮化鎵功放領(lǐng)域的研發(fā)、測試評估以及應(yīng)用方面的經(jīng)驗總結(jié)，對氮化鎵功放性能指標(biāo)的測試方法進行了詳細的規(guī)定，包括且不限于測試目的、測試環(huán)境、測試方法及步驟、測試工具及儀表等。
