2024年4月9-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。科學儀器制造商JEOL將攜產品亮相本屆博覽會，邀誠邀業界同仁蒞臨A214展臺參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，以及從芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料和設備到核心部件領域企業參展，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。

JEOL是世界頂級科學儀器制造商，事業范圍主要有電子光學儀器、分析儀器、測試檢查儀器、半導體設備、銷售和研發；其中電子光學儀器主要有透射電鏡、掃描電鏡、電子探針、俄歇電鏡、光電子能譜及其周邊設備等。

產品介紹

JEM-ARM200F NEOARM

球差校正透射電子顯微鏡

“NEOARM”標配了日本電子獨有的冷場場發射電子槍和全新的高階球差校正器（ASCOR），在200kV到30kV的加速電壓下，均能實現原子分辨率觀察與分析。

JEM-F200

場發射透射電子顯微鏡

全新外觀設計，基于球差校正電鏡的全新軟件界面，四級聚光鏡設計，實現束斑尺寸和會聚角度的單獨控制。電子槍可以提供肖特基或冷場電子槍，提供更好的亮度和能量分辨率。皮米級測角臺系統，樣品桿進出也可以實現自動控制，更高級的DeScan掃描系統，實現更大范圍的STEM-EELS分析，可選配雙能譜儀，分析的高精度和高速度完美結合，可實現STEM、EDS三維重構功能。

JEM-ACE200F

全自動解析透射電子顯微鏡

JEM-ACE200F全自動解析透射電子顯微鏡，可以通過設定好的程序，自動找到觀察位置，自動獲得S/TEM圖像及EDS信息，極盡高效。搭載冷場發射槍和球差校正器，性能卓越。 

值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。

關于JFSC&CSE 2024