2024年4月8-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。珠海誠鋒電子科技有限公司將攜新品亮相本屆盛會，誠邀業界同仁蒞臨2T43展臺參觀、交流合作。
本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。
CSE作為2024年首場國際化合物半導體產業博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區，六大領域，將集中展示各鏈條關鍵環節的新技術、新產品、新服務，將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產業的燈塔級盛會，集中展示化合物半導體上下游全產業鏈產品，搭建企業發布年度新產品新技術的首選平臺，支撐產業鏈及中部地區建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產業集群。
珠海誠鋒電子科技有限公司總部位于大灣區珠江口西岸核心城市一一珠海，公司在蘇州、合肥、上海、北京、深圳、成都、武漢、廈門、紹興、泰國、新加坡等國內外設立分公司及辦事處，立足中國，放眼世界。多年來專注于半導體光學視覺檢測設備行業，是一家集研發、生產、銷售為一體的半導體視覺檢測設備制造商。公司聚集了一批深耕機器視覺技術領域20多年的精英人才，自主研發多種高靈敏度、低噪聲的光源光路技術以及多種軟件檢測算法和機器學習算法，每個電子配件都經過嚴格挑選，只用正規品牌，整機加工精度達到國際標準，打造擁有完全自主知識產權的半導體裝備，為客戶提供全方位的半導體制造良率控制和視覺瑕疵檢測解決方案。
誠鋒科技專注于FAB圖形晶圓檢測設備的研發，將多年來積累的機器視覺技術，深厚的光學光路設計成果和智能化軟件檢測算法，跟行業最新的工藝需求相結合，設計出一系列擁有完整知識產權的圖形晶圓檢測設備，適用于前段工藝控制的CFW920系列/CFW820系列、后段工藝檢測的CFW380系列，以及紅外檢測的CFW680系列。誠鋒科技持續創新，不斷對標全球領先技術，我們開發并提供工藝控制和工藝促進解決方案，助力光通信、新能源等多個前沿領域的發展。誠鋒科技以卓越的檢測能力和出色的服務品質，高效滿足客戶需求，把評價設備質量的話語權交給客戶，讓客戶真正成為上帝。公司已獲得40多項國家專利技術證書，榮獲國家高新技術企業、專精特新企業，ISO-9001質量管理體系、ISO-14001環境管理體系、知識產權管理體系等認證資質。誠鋒科技，持續創新，用創新驅動價值增長，以品質提升品牌價值，致力于解決國內半導體視覺檢測“卡脖子”難題，真正實現國產化替代，成為半導體行業視覺檢測設備領跑者。
產品介紹
產品名稱：CFW920-Fab前段工藝控制設備
應用場景：ADI/AEI/Post CMP/先進封裝/切割道/0QC
適用領域：
1. FAB前段工藝控制
2. 支持12” /8” /6” wafer
3. 支持Taiko/Thin減薄工藝
4. 支持wafer翻轉功能
5. ADC 自動缺陷分類
像素分辨率：
170 nm@20X
放大倍率：2X/5X/10X/20X,50X/100X
特點：
良率控制，細微缺陷檢測
產品名稱：CFW820-Fab前段缺陷檢測設備
應用場景：ADI/AEI/Post CMP/先進封裝/切割道/0QC
適用領域：
1. FAB前段工藝控制
2. 支持12” /8” /6” wafer
3. 支持Taiko/Thin減薄工藝
4. 支持wafer翻轉功能
5. ADC 自動缺陷分類
像素分辨率：
976nm@5X
放大倍率：2X/5X/10X/20X
特點：
AOI，大缺陷快速篩選
產品名稱：CFW380-Fab后段缺陷檢測
應用場景：OQC/切割后檢測/擴膜后檢測
適用領域：
1. FAB 品質終檢
2. wafer劃片后/擴膜后檢測
3. 支持12” /8” /6” wafer
4. 支持Taiko/Thin減薄工藝
5. 支持wafer翻轉功能
6. ADC 自動缺陷分類
像素分辨率：
2.4μm@2X
放大倍率：1x/2X/5X
特點：
良率控制，細微缺陷檢測
【企業聯系方式】
企業官網：www.klat.com.cn
聯系人：潘麗娜
聯系電話：13168691510
郵箱：panlina@chengfengvs.com
公司地址：廣東省珠海市高新區科技七路1號四棟
值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。
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