5月29日，JBD宣布成功將MicroLED微顯示的壞點數從單屏≤100個降至≤3個。這一突破不僅標志著MicroLED微顯示達到了LCD等成熟顯示技術的品控水準，更樹立了MicroLED微顯示行業壞點指標的新基準。

壞點品控新水準

壞點與暗點的數量一直是衡量MicroLED微顯示產品可靠性和技術成熟度的關鍵指標。此前，受限于技術水平和生產工藝，行業內普遍面臨單屏壞點數量接近100個的技術瓶頸，這在一定程度上阻礙了消費級AR終端的普及應用。為了打破這一技術制約，JBD近年來持續深入MicroLED微顯示核心技術研究，將微顯示屏的壞點數降至單屏≤3個，其中0壞點完美屏的比例大幅提升。

不止于此，暗點同樣是MicroLED微顯示領域長期被忽視的技術挑戰，它直接影響畫面均勻性與成像質量。通過技術升級，JBD將單屏暗點率從高達0.4%降至0.03%的極低水平，再結合JBD獨有的Demura像素亮度補償算法，大幅度提高像素亮度均勻性。

壞點與暗點對顯示質量和用戶體驗有著較大的影響，死點會在圖像中形成明顯的黑色斑點，破壞畫面的完整性和細節表現；暗點則會使圖像出現灰暗瑕疵，影響色彩準確性和畫面均勻性。在高對比度或明亮場景中，這些缺陷尤為顯眼，容易分散用戶注意力，降低視覺沉浸感。減少壞點和暗點，可以有效避免圖像殘缺、顏色暗淡失真等問題，顯著提升畫面的完整性和均勻性，在提升AR近眼顯示場景的視覺質量方面起著至關重要的作用。

技術工藝、設備管理全方位改進

提升微顯示屏壞點和暗點的品控水準是一項復雜的系統工程，上述突破性進展得益于JBD在技術迭代、工藝優化、缺陷分析及精益管理等多方面的持續投入與協同發力。

技術層面，JBD通過改善外延結構，實現材料密度的均勻分布。同時，創新的工藝確保像素級的均勻驅動。設備和制造方面，引進先進設備提升加工精度。生產管理方面，在各道工藝增設檢測流程，對關鍵環節進行嚴格監控與精準治理，確保整個生產過程符合最高質量標準。

以上不僅是JBD技術創新與生產工藝大幅提升的體現，更標志著MicroLED微顯示正在步入應用成熟期。隨著AI技術的飛速發展，人們對輕量化AR眼鏡作為全天候AI助手的需求日益增長。MicroLED微顯示技術憑借其高亮度、小體積、低功耗等卓越表現，正逐漸成為輕量化AR眼鏡的首選方案。壞點和暗點品控水準的大幅進步，將進一步鞏固JBD在近眼顯示場景的優勢。

來源：JBD顯耀顯示